多項選擇題試件中實際缺陷的形狀多種多樣,通常把缺陷的形狀簡化為()

A.圓片形
B.球形
C.圓柱形
D.點狀形
E.條形


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1.多項選擇題超聲波探傷為了減少側(cè)壁反射的影響,應選用()探頭。

A.晶片直徑大
B.頻率低
C.指向性好
D.晶片直徑小
E.頻率高

2.多項選擇題超聲波檢測中,耦合劑的()對回波的高度有一定的影響。

A.濃度
B.價格
C.形狀
D.聲阻抗
E.耦合層厚度

3.多項選擇題超聲探傷儀的()等都會直接影響回波高度。

A.垂直線性
B.水平線性
C.晶片尺寸
D.頻率與K值
E.探頭形式

5.多項選擇題工件材質(zhì)對缺陷的定位影響主要是()

A.聲速
B.聲壓
C.聲強
D.內(nèi)應力
E.外應力

最新試題

衍射時差法對缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。

題型:判斷題

為了減少側(cè)壁的影響,必要時可采用試塊比較法進行定量,以便提高定量精度。

題型:判斷題

超聲波在圓柱內(nèi)反射,如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換,且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波,返回探頭接收,會形成等邊的三角形遲到回波。

題型:判斷題

當探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時,而又沒有進行適當?shù)难a償,會使定量誤差增加,精度下降。

題型:判斷題

對于圓柱體而言,外圓徑向檢測實心圓柱體時,入射點處的回波聲壓實際上由于圓柱面耦合不及平面,因而其回波高于平底面,會使定量誤差增加。

題型:判斷題

缺陷垂直時,擴散波束入射至缺陷時回波較高,而定位時就會誤認為缺陷在軸線上,從而導致定位不準。

題型:判斷題

由于圓柱形工件有一定的曲率,直探頭與工件直接接觸時,接觸面為一條很寬的條形區(qū)域,從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會產(chǎn)生強烈的聲束擴散。

題型:判斷題

在檢測晶粒粗大和大型工件時,應測定材料的衰減系數(shù),計算時應考慮介質(zhì)衰減的影響。

題型:判斷題

非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小,聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點和氣孔等缺陷。

題型:判斷題

超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴重,定量會受到影響。

題型:判斷題