A.控制限的寬度通常是正負3個流程的標準差
B.控制限寬度與樣本大小的平方根成反比
C.如果流程受控,每百萬個機會中會有2700個落出控制上下限的機會
D.如果流程受控,一半的點會落在中心線以下
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A、NP圖和P圖都可以,兩者效果一樣
B、NP圖和P圖都可以,NP圖效果更好NP樣本大小不變
C、NP圖和P圖都可以,P圖效果更好
D、以上都不對
A.Xbar-R圖子組連續(xù)數(shù)據(jù)
B.Xbar-S圖子組連續(xù)數(shù)據(jù)
C.I-MR圖(單值移動極差控制圖)單件連續(xù)數(shù)據(jù)
D.P圖或NP圖計件離散數(shù)據(jù)C圖u圖計點離散數(shù)據(jù)
A.子組數(shù)量應(yīng)該在5個以下
B.組內(nèi)差異只由隨機變異組成
C.組內(nèi)差異應(yīng)大于組間差異
D.不存在組內(nèi)差異
A.將A、B、C、D、班次作為5個因子,安排成25的全因子試驗
B.將A、B、C、D作為因子,班組作為區(qū)組,安排成帶有2個區(qū)組的24的全因子試驗
C.將A、B、C、D、4個因子取3個水平,班次為2個水平,安排成一般的全因子試驗
D.在不同班次下分別安排4個因子的2水平全因子試驗
A.先安排兩水平的全因子試驗,根據(jù)試驗結(jié)果確定是否增加軸向點設(shè)計響應(yīng)曲面試驗或確定最速上升方向
B.安排三水平的全因子試驗,一次就可以找到最優(yōu)點
C.安排四水平以上的全因子試驗設(shè)計,可以擬合出更為復雜的函數(shù)關(guān)系
D.對每個因素設(shè)定若干水平(如10水平),固定其他因素,一次改變一個因素,最終就可以找到最優(yōu)參數(shù)
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