A、波高
B、能量
C、持續(xù)時(shí)間
D、波幅高度
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A、連續(xù)波
B、脈沖波
C、近場(chǎng)波
D、以上都不對(duì)
A、能量
B、波幅高度
C、持續(xù)時(shí)間
D、以上都對(duì)
A、連續(xù)波
B、脈沖波
C、近場(chǎng)波
D、以上都不對(duì)
A、振動(dòng)方程
B、反射定理
C、折射定理
D、壓電方程
A、X=Acos(ωt-φ)
B、X=Acos(ωt+φ)
C、X=Asin(ωt+φ)
D、X=Asin(ωt-φ)
最新試題
根據(jù)檢測(cè)對(duì)象和目的的不同,渦流檢測(cè)儀器一般可分為()、渦流電導(dǎo)儀和渦流測(cè)厚儀三種。
波束截面中心聲能(),隨著與中心的距離的增大,聲能()
渦流檢測(cè)儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。
渦流檢測(cè)線圈是在被檢測(cè)導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生()
在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí),缺陷波高與缺陷面積成()
鑄件超聲檢測(cè)的特點(diǎn)是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射,相應(yīng)的可檢缺陷尺寸()
采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
對(duì)于圓盤(pán)形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
當(dāng)波束中心線與缺陷面()且回波最()時(shí),移動(dòng)探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。