用劈尖干涉法可檢測(cè)工件表面缺陷,當(dāng)波長(zhǎng)為λ的單色平行光垂直入射時(shí),若觀察到的干涉條紋如圖所示,每一條紋彎曲部分的頂點(diǎn)恰好與其左邊條紋的直線部分的連線相切,則工件表面與條紋彎曲處對(duì)應(yīng)的部分應(yīng):()
A.凸起,且高度為λ/4
B.凸起,且高度為λ/2
C.凹陷,且深度為λ/2
D.凹陷,且深度為λ/4
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用波長(zhǎng)為λ的單色光垂直照射到空氣劈尖上,從反射光中觀察干涉條紋,距頂點(diǎn)為L(zhǎng)處是暗條紋。使劈尖角θ連續(xù)變大,直到該點(diǎn)處再次出現(xiàn)暗條紋為止(見(jiàn)圖)。則劈尖角的改變量△θ是:()
A.λ/(2L)
B.λ/L
C.2λ/L
D.λ/(4L)
兩塊平玻璃構(gòu)成空氣劈尖,左邊為棱邊,用單色平行光垂直入射。若上面的平玻璃慢慢地向上平移,則干涉條紋如何變化?()
A.向棱邊方向平移,條紋間隔變小
B.向棱邊方向平移,條紋間隔變大
C.向棱邊方向平移,條紋間隔不變
D.向遠(yuǎn)離棱邊的方向平移,條紋間隔不變
A.干涉圖樣不變
B.干涉圖樣下移
C.干涉圖樣上移
D.不產(chǎn)生干涉條紋
A.λ/4
B.λ/(4n)
C.λ/2
D.λ/(2n)
A.L=3λ/2,△φ=3π
B.L=3λ/(2n),△φ=3nπ
C.L=3λ/(2n),△φ=3π
D.L=3nλ/2,△φ=3nπ
最新試題
真空中波長(zhǎng)為λ的單色光,在折射率為n的均勻透明媒質(zhì)中,從A點(diǎn)沿某一路徑傳播到B點(diǎn)。設(shè)路徑的長(zhǎng)度為ι,A、B兩點(diǎn)光振動(dòng)相位差記為△φ,則ι和△φ的值分別為:()
三個(gè)偏振片P1、P2與P3堆疊在一起,P1與P3的偏振化方向相互垂直,P2與P1的偏振化方向間的夾角為30°。強(qiáng)度為I0的自然光垂直入射于偏振片P1,并依次透過(guò)偏振片P1、P2與P3,則通過(guò)三個(gè)偏振片后的光強(qiáng)為:()
波長(zhǎng)為λ的單色平行光垂直入射到一狹縫上,若第一級(jí)暗紋的位置對(duì)應(yīng)的衍射角為θ=±π/6,則縫寬的大小為:()
在邁克耳遜干涉儀的反射鏡M2平移距離為0.3220mm時(shí),測(cè)得某單色光的干涉條紋移過(guò)1024條,則該單色光的波長(zhǎng)為:()
在單縫夫瑯和費(fèi)衍射實(shí)驗(yàn)中,若增大縫寬,其他條件不變,則中央明條紋的變化是:()
用劈尖干涉法可檢測(cè)工件表面缺陷,當(dāng)波長(zhǎng)為λ的單色平行光垂直入射時(shí),若觀察到的干涉條紋如圖所示,每一條紋彎曲部分的頂點(diǎn)恰好與其左邊條紋的直線部分的連線相切,則工件表面與條紋彎曲處對(duì)應(yīng)的部分應(yīng):()
一單色光垂直照射在空氣劈尖上,當(dāng)劈尖的劈角增大時(shí),各級(jí)干涉條紋將有下列中的何種變化?()
在正常照度下,人眼的最小分辨角(對(duì)黃綠色光)θ0=2.3×10-4rad。若物體放在明視距離25cm處,則兩物點(diǎn)相距多少才能被分辨?()
ABCD為一塊方解石的一個(gè)截面,AB為垂直于紙面的晶體平面與紙面的交線。光軸方向在紙面內(nèi)且與AB成一銳角θ,如圖所示。一束平行的單色自然光垂直于AB端面入射。在方解石內(nèi)折射光分解為o光和e光,關(guān)于o光和e光的關(guān)系,下列敘述正確的是?()
使一光強(qiáng)為I0的平面偏振光先后通過(guò)兩個(gè)偏振片P1和P2,P1和P2的偏振化方向與原入射光光矢量振動(dòng)方向的夾角分別是α和90°,則通過(guò)這兩個(gè)偏振片后的光強(qiáng)I是:()