問答題試為下述分析工作選擇你認(rèn)為恰當(dāng)?shù)模ㄒ环N或幾種)分析方法淬火鋼中殘留奧氏體質(zhì)量分?jǐn)?shù)的測(cè)定
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根據(jù)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)原理,理想晶體衍射強(qiáng)度隨()而變化。
題型:多項(xiàng)選擇題
在電子探針中,測(cè)定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀,簡(jiǎn)寫為()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
關(guān)于X射線衍射儀的測(cè)量動(dòng)作,說(shuō)法正確的是()。
題型:多項(xiàng)選擇題
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過(guò)調(diào)節(jié)()的位置來(lái)實(shí)現(xiàn)的。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
電子探針和X射線衍射儀一樣,都可以直接確定材料中所包含的物相。
題型:判斷題
1887年,Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
題型:判斷題
熱分析中,不同性質(zhì)的氣氛對(duì)測(cè)試結(jié)果沒有影響。
題型:判斷題
與光鏡呈像相比,掃描電鏡圖像立體感強(qiáng),形態(tài)逼真,這是由于掃描電鏡的()比光鏡大100-500倍。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在電子探針面分析中,根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布,可確定該元素在試樣中分布情況,亮區(qū)代表元素含量()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
掃描電鏡的二次電子像中,樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子,在熒光屏上這些部位的亮度較大。
題型:判斷題