A、與原子發(fā)生能級(jí)間躍遷時(shí)激發(fā)態(tài)原子的有限壽命有關(guān)的自然寬度;
B、由于原子在空間作無規(guī)則熱運(yùn)動(dòng)所引起的譜線變寬,稱為多普勒變寬或熱變寬;
C、吸光原子與蒸氣中的原子或分子相互碰撞而引起能量的微小變化,使發(fā)射或吸收光量子頻率改變而導(dǎo)致的譜線變寬,稱作壓力變寬,又可具體分為勞倫茲變寬、共振變寬或赫魯茲馬克(Holtsmark)變寬;
D、外界電場、帶電粒子、離子形成的電場及磁場的作用使譜線變寬的現(xiàn)象稱作場致變寬
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A.原子線;離子線
B.離子線;共振線
C.共振線;分析線
D.分析線;原子熒光
A.隨著取代原子電負(fù)性的增大或取代數(shù)目的增加,誘導(dǎo)效應(yīng)增強(qiáng),吸收峰向低波數(shù)移動(dòng);
B.共軛效應(yīng)使共軛體系中的電子云密度趨向于平均化,結(jié)果使原來的雙鍵略有伸長,使其特征頻率向低波數(shù)移動(dòng);
C.當(dāng)含有孤對(duì)電子的原子與具有多重鍵的原子相連時(shí),也可以起到類似共軛效應(yīng)的作用,使其特征頻率向低波數(shù)移動(dòng);
D.形成氫鍵時(shí)不但會(huì)紅外吸收峰變寬,也會(huì)使基團(tuán)頻率向低波數(shù)方向移動(dòng);
E.空間位阻效應(yīng)和環(huán)張力效應(yīng)也常常會(huì)導(dǎo)致特征頻率的變化。
A.焰炬表面的溫度低而中心高
B.原子化過程主要在焰炬表面進(jìn)行
C.焰炬表面的溫度高而中心低
D.蒸發(fā)過程主要在焰炬表面進(jìn)行
A.利用紅外光譜進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析時(shí),為了便于與純物質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)光譜進(jìn)行對(duì)照,試樣必須是單一組分的純物質(zhì)且純度要大于99%。
B.混合試樣測定前要經(jīng)過分餾、萃取、重結(jié)晶等方法進(jìn)行分離提純或采用聯(lián)用方法進(jìn)行分析,否則各組分光譜相互重疊,譜圖很難解析。
C.由于水本身有紅外吸收,且嚴(yán)重干擾試樣光譜,此外,水還會(huì)浸蝕KBr鹽片,所以試樣中通常不能含有游離水。
D.固體試樣可以采用KBr壓片法、石蠟糊法和薄膜法測定紅外光譜,液體試樣常用液體池和液膜法,氣體試樣則需要在專用的氣體池內(nèi)進(jìn)行測定。
E.試樣的濃度和測試厚度對(duì)紅外光譜分析的影響很大,尤其是對(duì)定量分析的影響更大,通常要求光譜中大多數(shù)吸收峰的透過率在10%-80%。
A.鐵譜
B.銅譜
C.碳譜
D.氫譜
最新試題
ICP光譜干擾包括()。
脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測定鋼鐵中氫含量,分析前應(yīng)用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn)儀器,所用實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)的氫含量應(yīng)略大于被分析試樣的含氫量。
直讀光譜分析鐵水試樣時(shí),鐵水試樣必須白口化。
選用ICP-AES儀器,同時(shí)可以進(jìn)行()。
紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池,高量程的池體短,相應(yīng)紅外光程短。
ICP-AES法中檢出限高低取決于()。
鋼鐵中以下元素能夠使用紅外線吸收法測量的是()。
X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是()。
玻璃熔融-X熒光光譜法,采用的熔融法存在缺點(diǎn)是()。
空心陰極燈的安裝,可以不考慮燈腳的位置,裝上即可。