A.外觀檢驗(yàn)
B.焊接接頭的內(nèi)部缺陷檢驗(yàn)
C.耐壓試驗(yàn)和泄漏試驗(yàn)
D.管道的硬度檢驗(yàn)
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A.不宜采用十字接頭
B.不應(yīng)在不銹鋼殼體上直接焊碳鋼支架
C.對(duì)低溫壓力容器和受交變載荷的壓力容器必需采用全焊透的結(jié)構(gòu)
D.可以采用十字接頭
A.圓筒部分的縱向焊縫
B.封頭的拼縫
C.長(zhǎng)頸法蘭與接管連接的接頭
D.嵌入式接管與殼體對(duì)接接頭
A.可用于形狀復(fù)雜的工件
B.同時(shí)可檢測(cè)出幾個(gè)方向的缺陷
C.不需要大型設(shè)備和水電
D.可檢測(cè)出近表面的缺陷
A.工件厚度
B.焦點(diǎn)尺寸
C.射線能量
D.焦距
A.外加磁場(chǎng)的強(qiáng)度
B.材料的磁導(dǎo)率
C.材料的磁感應(yīng)強(qiáng)度
D.缺陷的埋藏深度
最新試題
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于（）
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）
以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測(cè)的是（）
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響（）
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān)，觀片燈亮度改變，最佳黑度值也將改變。
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述，不正確的一項(xiàng)是（）