A.檢測用儀器和設(shè)備的性能應(yīng)每年進行一次檢定(校準(zhǔn)),并有記錄可查
B.黑度計至少每6個月校驗一次
C.射線設(shè)備更換重要部件應(yīng)及時對曝光曲線進行校驗或重新制作
D.對使用中的曝光曲線,每年至少應(yīng)校驗一次
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A.公稱厚度:受檢工件名義厚度,不考慮材料制造偏差和加工減薄
B.焦距:沿射線束中心測定的工件受檢部位表面與膠片之間的距離
C.圓形缺陷:長寬比小于或等于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷
D.小徑管:外直徑D0小于或等于100mm的管子
A.雙壁單影透照像質(zhì)計放置在膠片側(cè)
B.當(dāng)像質(zhì)計放置在膠片側(cè)時,應(yīng)在像質(zhì)計上適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記,“F”標(biāo)記影象應(yīng)與像質(zhì)計的標(biāo)記同時出現(xiàn)在底片上,且應(yīng)在檢測報告中注明
C.單壁透照時允許像質(zhì)計放置在膠片側(cè),但必須進行對比試驗
D.當(dāng)一張膠片上同時透照多條焊接接頭時,至少在第一條、中間一條和最后一條焊接接頭處各放一個置像質(zhì)計
A.X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓
B.γ射線照相時,總的曝光時間應(yīng)不小于輸送源所需時間的10倍
C.X射線照相,當(dāng)焦距為700mm時,曝光量的推薦值為:AB級不小于15mA.min
D.X射線照相在采用較高管電壓時,應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬?/p>
A.電源電壓下降超過10%時,黑光燈輸出功率將大大降低
B.電源電壓波動超過10%時,對人眼損傷較大
C.電源電壓過低嚴(yán)重影響檢測靈敏度
D.電源電壓過高嚴(yán)重影響黑光燈壽命
A.試塊清洗后,放在酒精溶液中保存
B.施加滲透劑可直接進行刷涂
C.施加滲透劑不能用噴涂方法
D.熒光滲透檢測用試塊可用于著色滲透檢測
最新試題
不同材料的相對吸收系數(shù)()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測的是()
影響較大的散射線通常來自()
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
一般認(rèn)為表面波探測的有效深度約為()
使用變型波檢測的一個優(yōu)點是()
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()