精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。

監(jiān)測基準(zhǔn)網(wǎng)點位穩(wěn)定性檢驗方法有采用最小二乘平差的檢驗方法、（）、采用最小二乘平差和數(shù)理統(tǒng)計檢驗相結(jié)合的方法。

精密光學(xué)水準(zhǔn)儀的日常保養(yǎng)中，一般使用（）擦拭鏡片。

若依次采用元素法、主點法或交點法三種路線定義方法，那么路線定義的最終數(shù)據(jù)為最后采用（）的定義方法所得到的有效數(shù)據(jù)。

利用偽距作空間交會來定位點位的方法稱為（）

偽距測量缺點有時間不宜測準(zhǔn)和（）

精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測量高程時應(yīng)使用（）

光電測距中對向觀測的作用是減弱大氣折光、（）等對測量結(jié)果的影響。

度盤刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤位置削弱該誤差影響。

深度基準(zhǔn)面的確定方法有理論深度基準(zhǔn)面、最低水位、（）、設(shè)計水位。