A.由于缺陷取向的影響;大尺寸缺陷的回波比小尺寸缺陷的回波高
B.由于缺陷形狀的影響;圓片形缺陷的回波比圓柱形缺陷的回波高
C.由于缺陷性質(zhì)的影響;氣孔缺陷的回波比夾雜缺陷的回波高
D.由于缺陷表面的影響;對(duì)于傾斜缺陷,粗糙面的回波比光滑面的回波高
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A.有已知聲速的平面試樣
B.待測(cè)件厚度可以測(cè)量
C.時(shí)基線調(diào)整要準(zhǔn)確
D.以上都是
A.用已知厚度試塊,通過校準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量
B.為了準(zhǔn)確測(cè)量,需要使用不同厚度的兩塊試塊進(jìn)行校準(zhǔn)
C.測(cè)量時(shí),需要了解被測(cè)件的聲速
D.以上都是
A.5mm
B.10mm
C.20mm
D.40mm
A.5mm
B.10mm
C.20mm
D.40mm
A.會(huì)使聲束產(chǎn)生彎曲現(xiàn)象
B.會(huì)產(chǎn)生固定的遲到回波
C.聲束在側(cè)壁上會(huì)產(chǎn)生變型波
D.以上都有可能
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測(cè)長方法稱為()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長距離檢測(cè)。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。