電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

拉曼光譜分析時，1500cm-1以上的譜帶必定是一個基團(tuán)的頻率，解釋通常是可靠的，一般可以確信其推論。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

當(dāng)?shù)挂浊蚺c反射球相交，交線是一個圓環(huán)，環(huán)上每一點(diǎn)都滿足衍射條件，可以產(chǎn)生衍射。

每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu)，晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。

利用電子探針對材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。