填空題測(cè)量平面度誤差時(shí),常將平面平晶工作面貼在被測(cè)表面上,并稍加壓力,就會(huì)有干涉條紋出現(xiàn)。干涉條紋越多,則平面度誤差()。

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4.單項(xiàng)選擇題直線度誤差測(cè)量方法中的測(cè)微法是指()。

A.將被測(cè)件支撐在精確平板上,通過(guò)指示器(如百分表)進(jìn)行比較測(cè)量,得出直線度誤差值
B.將平晶直接放在被測(cè)表面上,通過(guò)觀察干涉帶,進(jìn)行計(jì)算出測(cè)量直線度誤差值
C.用刀口尺與實(shí)際形狀相接觸,通過(guò)目估、塞尺檢驗(yàn)或與標(biāo)準(zhǔn)光隙比較而得到測(cè)量直線度誤差值
D.以測(cè)微準(zhǔn)值望遠(yuǎn)鏡或自準(zhǔn)值儀所發(fā)出的光線為測(cè)量基線,測(cè)出測(cè)量直線度誤差值

9.單項(xiàng)選擇題下列幾種形位誤差測(cè)量原則中,()適用于采用最大實(shí)體要求的場(chǎng)合。

A.控制實(shí)效邊界原則
B.測(cè)量坐標(biāo)值原則
C.測(cè)量跳動(dòng)原則
D.測(cè)量特征參數(shù)原則