測定“始脈沖寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。

橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。

雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測定斜探頭的分辨力。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

工件比較粗糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。

當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

測定儀器垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。