縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。

目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。

當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

斜探頭前部磨損較多時，探頭的K值將變小。

檢測面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測技術(shù)綜合考慮。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

軟保護膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

斜探頭中，楔塊的作用是使縱波斜入射到工件中，通過波型轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波、表面波或板波。