多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

標準試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

軟保護膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。

斜探頭中，楔塊的作用是使縱波斜入射到工件中，通過波型轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波、表面波或板波。

當量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

多探頭法是用兩個以上的探頭同時工作的檢測方法。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

脈沖反射法可對缺陷定性、定量和定位。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。