與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響。

斜探頭楔塊上部和前部開(kāi)消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

測(cè)定組合靈敏度時(shí)，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進(jìn)行測(cè)試。

脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān)，對(duì)厚度大的工件，應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

多探頭法是用兩個(gè)以上的探頭同時(shí)工作的檢測(cè)方法。

目前使用最廣泛的超聲測(cè)厚儀是脈沖反射式測(cè)厚儀。