測(cè)定組合靈敏度時(shí)，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進(jìn)行測(cè)試。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。

脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。

曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān)，對(duì)厚度大的工件，應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。

檢測(cè)面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。