A.當(dāng)被測(cè)LED模塊與光通量標(biāo)準(zhǔn)燈的相對(duì)光譜功率分布接近時(shí)，分光法可達(dá)到很高的測(cè)量精度
B.當(dāng)被測(cè)LED模塊的最大光譜功率小于光通量標(biāo)準(zhǔn)燈所對(duì)應(yīng)的光譜功率，且兩者相差不大時(shí)，分光法具有較高的測(cè)量精度
C.當(dāng)被測(cè)LED模塊的最大光譜功率小于光通量標(biāo)準(zhǔn)燈所對(duì)應(yīng)的光譜功率，且兩者相差不大時(shí)，積分法具有較高的測(cè)量精度
D.當(dāng)被測(cè)LED模塊與光通量標(biāo)準(zhǔn)燈的光通量大小和光譜功率分布存在較大差異時(shí)，建議使用積分-分光結(jié)合法
E.當(dāng)被測(cè)LED模塊與光通量標(biāo)準(zhǔn)燈的外形和尺寸存在差異而導(dǎo)致自吸收差異時(shí)，可以使用自吸收修正系數(shù)修正測(cè)量結(jié)果

A.積分法
B.分光法
C.積分-分光結(jié)合法
D.光度法
E.積分-光度結(jié)合法

A.自鎮(zhèn)流LED模塊應(yīng)在額定電壓和額定頻率下進(jìn)行試驗(yàn)或測(cè)量
B.在穩(wěn)定期間，電源電壓穩(wěn)定在額定值的±0.5%的范圍內(nèi)
C.測(cè)量時(shí)，電源電壓穩(wěn)定在額定值的±0.5%的范圍內(nèi)
D.測(cè)量時(shí)，電源電壓諧波失真小于3%
E.壽命試驗(yàn)的電源電壓穩(wěn)定在±2%內(nèi)

A.電源應(yīng)為連接的負(fù)載提供充足的電流調(diào)節(jié)能力
B.對(duì)使用放電燈的燈具，交流電源的頻率應(yīng)在要求頻率的±0.5%以內(nèi)保持穩(wěn)定
C.交流電源電壓波形的諧波含量應(yīng)盡可能低，并且不應(yīng)超過(guò)基波的3%
D.如果是直流電源，燈具終端處電壓的交流成分不應(yīng)超過(guò)0.5%
E.應(yīng)按相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范要求設(shè)定燈具或裸光源電源終端的電壓并保持穩(wěn)定

A.燈具應(yīng)平滑移動(dòng)，沒(méi)有晃動(dòng)
B.使用對(duì)環(huán)境溫度敏感的光源的燈具應(yīng)足夠緩慢地移動(dòng)，使其對(duì)燈具熱平衡的干擾最小
C.敞開式熒光燈燈具旋轉(zhuǎn)時(shí)，周圍空氣的流速不應(yīng)超過(guò)0.2m/s
D.敞開式熒光燈燈具旋轉(zhuǎn)時(shí)，周圍空氣的流速不應(yīng)超過(guò)0.5m/s
E.測(cè)試時(shí)，測(cè)量系統(tǒng)旋轉(zhuǎn)速度應(yīng)為10°/s

A.光輸出比
B.總光通量
C.總功率
D.上射、下射光通
E.區(qū)域光通

A.300~400nm時(shí)，數(shù)據(jù)點(diǎn)間隔不應(yīng)超過(guò)5nm
B.300~400nm時(shí)，數(shù)據(jù)點(diǎn)間隔不應(yīng)超過(guò)10nm
C.400~1000nm時(shí)，數(shù)據(jù)點(diǎn)間隔不應(yīng)超過(guò)10nm
D.400~1000nm時(shí)，數(shù)據(jù)點(diǎn)間隔不應(yīng)超過(guò)20nm
E.1000~2500nm時(shí)，數(shù)據(jù)點(diǎn)間隔不應(yīng)超過(guò)100nm

A.單一試樣測(cè)量裝置由一個(gè)加熱單元和一個(gè)冷卻單元構(gòu)成，分別位于試樣的兩側(cè)，冷卻單元的表面與加熱單元的表面尺寸相同
B.單試樣測(cè)量裝置由一個(gè)加熱單元和兩個(gè)冷卻單元構(gòu)成
C.至少使用3對(duì)熱電偶成對(duì)安裝在每塊試樣的兩個(gè)表面且與表面接觸
D.一對(duì)熱電偶定位在熱流計(jì)截面的中央，另外兩對(duì)點(diǎn)中心對(duì)稱安裝在與測(cè)量截面中心到周邊的2/3處
E.熱流計(jì)的測(cè)量截面應(yīng)不小于7500mm²，但不應(yīng)超過(guò)800mm×800mm，應(yīng)成圓形

A.將試樣冷卻至283K并達(dá)到等溫平衡后，立即測(cè)量中空玻璃內(nèi)表面中央?yún)^(qū)的撓度
B.如果向外的撓度太大，可以通過(guò)降低中空玻璃內(nèi)部壓力進(jìn)行試樣中央?yún)^(qū)厚度校正
C.如果試樣向內(nèi)的撓度太大，且需要的校正不大于0.5mm時(shí)可充空氣校正
D.試樣的平均溫度應(yīng)控制在288K±0.5K
E.試樣冷熱表面的平均溫差保持在15K±1K

A.T1為被測(cè)試樣熱表面平均溫度
B.T2為被測(cè)試樣熱表面平均溫度
C.q1為被測(cè)試樣熱側(cè)熱流量密度
D.q2為被測(cè)試樣熱側(cè)熱流量密度