A.S<ωCxUexpUN×10-3
B.S>ωCxUexpUN×10-3
C.無要求
D.以上均不是
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A.氣化
B.升華
C.凝露
D.氣體
A.單臂電橋
B.雙臂電橋
C.歐姆表
D.萬用表
A.L-接被試設(shè)備、E-接地、G-接屏蔽
B.L-接地、E-接被試設(shè)備、G-接屏蔽
C.L-接屏蔽、E-接地、G-接被試設(shè)備
D.L-接屏蔽、E-接被試設(shè)備、G-接地
A.阻性電流
B.感性電流
C.容性電流
D.以上均不是
A.輔助電壓接地極
B.輔助電流接地極
C.破損的電壓回路導(dǎo)線
D.以上均不是
最新試題
220kV斷路器的開斷電流為21kA,將它更換為31.5kA的斷路器。更換斷路器后開斷容量是S=U×I=220×31.5=6930MVA。
直流泄漏電流試驗(yàn)?zāi)芊从炒少|(zhì)絕緣的裂紋、夾層絕緣內(nèi)部受潮及局部斷裂、絕緣的沿面炭化等。
絕緣良好的tgδ不隨電壓的升高而明顯增加。若絕緣內(nèi)部有缺陷,則其tgδ將隨電壓的升高而明顯增加。
主變高壓套管帶電檢測,其檢測阻抗能否直接串入電容接地線測量。
試驗(yàn)變壓器波形畸變的根本原因是調(diào)壓器和試驗(yàn)變壓器的漏抗以及電容負(fù)載所造成。
超高頻局部放電試驗(yàn)?zāi)軌虬l(fā)現(xiàn)設(shè)備內(nèi)部發(fā)熱、放電及絕緣缺陷。
將并聯(lián)有晶閘管閥及其電抗器的電容器串接于輸電線路中,并配有旁路斷路器、隔離開關(guān)、串補(bǔ)平臺、支撐絕緣子、控制保護(hù)系統(tǒng)等附屬設(shè)備組成的裝置,簡稱可控串補(bǔ)。
交流耐壓試驗(yàn)電壓波形應(yīng)是正弦或接近正弦,兩個半波應(yīng)完全一樣,且波頂因數(shù)即峰值與有效值之比應(yīng)等于√2±0.07。
在現(xiàn)場相同條件下(好天氣),用介損儀測量小電容試品的tgδ和Cx時,用正接線方法和反接線方法測量結(jié)果是完全相同的。
當(dāng)電力設(shè)備的額定電壓與實(shí)際使用的額定電壓不同時,當(dāng)采用額定電壓較高的設(shè)備作為代用時,應(yīng)按照實(shí)際使用的額定電壓確定其試驗(yàn)電壓。