A.掃描一聚光的光學(xué)系統(tǒng)
B.紅外探測(cè)器
C.電子系統(tǒng)
D.顯示系統(tǒng)
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A.應(yīng)根據(jù)實(shí)際被測(cè)目標(biāo)的大小及測(cè)量距離來(lái)確定
B.根據(jù)實(shí)際的測(cè)量目的、用途來(lái)確定
C.根據(jù)環(huán)境條件
D.考慮一定的裕度
A.油箱殼表面及螺栓因渦流引起的發(fā)熱
B.冷卻器和散熱器工作是否異常
C.油色譜分析試驗(yàn)結(jié)果
D.套管介損試驗(yàn)結(jié)果等
A.溫度
B.濕度
C.高壓回路的電阻
D.光線
A.電阻
B.電感
C.頻率
D.電容
A.√L/R
B.ωL/R
C.1/ωcR
D.ωL/C
最新試題
GIS耐壓試驗(yàn)之前,進(jìn)行老化(凈化)試驗(yàn)的目的是:使設(shè)備中可能存在的活動(dòng)微粒雜質(zhì)遷移到低電場(chǎng)區(qū),并通過(guò)放電燒掉細(xì)小微?;螂姌O上的毛刺、附著的塵埃,以恢復(fù)GIS絕緣強(qiáng)度,避免不必要的破壞或返工。
在現(xiàn)場(chǎng)采用介損儀測(cè)量設(shè)備的介損tgδ時(shí),若存在電場(chǎng)干擾,則在任意測(cè)試電源極性的情況下,所測(cè)得tgδ值一定比真實(shí)的tgδ增大。
采用搖表(或接地電阻測(cè)試儀)由于輸出測(cè)試電流小,不用布放那么長(zhǎng)的電壓線和電流線。
若儀表刻度不均勻,則在分度線較密的部分,讀數(shù)誤差較大,靈敏度也較低。
交流耐壓試驗(yàn)時(shí),應(yīng)測(cè)量試驗(yàn)電壓的峰值Um,并使Um/√2=標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)電壓U(有效值)。
超高頻局部放電試驗(yàn)?zāi)軌虬l(fā)現(xiàn)設(shè)備內(nèi)部發(fā)熱、放電及絕緣缺陷。
在現(xiàn)場(chǎng)相同條件下(好天氣),用介損儀測(cè)量小電容試品的tgδ和Cx時(shí),用正接線方法和反接線方法測(cè)量結(jié)果是完全相同的。
直流高壓試驗(yàn)采用高壓硅堆作整流元件時(shí),高壓硅堆上的反峰電壓使用值不能超過(guò)硅堆的額定反峰電壓,其額定整流電流應(yīng)大于工作電流,并有一定的裕度。
考慮系統(tǒng)短路電流產(chǎn)生的動(dòng)穩(wěn)定和熱穩(wěn)定效應(yīng)的電氣設(shè)備有變壓器、斷路器、電流互感器、耦合電容器。
描述磁場(chǎng)的磁力線,是一組既不中斷又互不相交,卻各自閉合,既無(wú)起點(diǎn)又無(wú)終點(diǎn)的回線。