A.10
B.20
C.25
D.50
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A.1500
B.2000
C.2500
D.4000
A.測(cè)速和磁記號(hào)
B.測(cè)速和時(shí)間標(biāo)記
C.磁記號(hào)和張力曲線
D.測(cè)速、張力曲線、時(shí)間標(biāo)記和磁記號(hào)
A.幅度變小,半幅點(diǎn)上移
B.幅度變小,半幅點(diǎn)下移
C.幅度變大,半幅點(diǎn)上移
D.幅度變大,半幅點(diǎn)下移
A.測(cè)井速度是根據(jù)儀器特性、處理軟件和地質(zhì)要求確定的
B.測(cè)速過快將降低儀器縱向分辨率
C.幾種儀器組合時(shí)應(yīng)采用最低測(cè)速儀器的測(cè)速
D.測(cè)速過快影響曲線幅度,但對(duì)深度沒有影響
A.±0.1
B.±0.05
C.±0.03
D.±0.01
最新試題
核磁共振弛豫包括()。
微電阻率成像測(cè)井按井眼條件選擇扶正器,測(cè)井時(shí)極板壓力()。
利用多極子聲波測(cè)井可以更好地獲得硬地層和軟地層的縱波、橫波和()等特征參數(shù)。
簡(jiǎn)述如何根據(jù)聲電成像測(cè)井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。
當(dāng)水體漸進(jìn)時(shí),沉積范圍逐漸擴(kuò)大,較新沉積層覆蓋了較老沉積層,并向陸地?cái)U(kuò)展,與更老的地層侵蝕面成不整合接觸,在柱狀剖面上,表現(xiàn)為下粗上細(xì)特征,這種現(xiàn)象稱為()。
簡(jiǎn)述VSP 測(cè)井影響因素。
泥質(zhì)砂巖地層核磁有效孔隙度應(yīng)小于或等于()孔隙度。
影響核磁共振測(cè)井的主要因素包括()、孔隙流體及巖石的潤(rùn)濕性和地層磁化率差異。
孔隙充滿液體的較純砂巖地層:核磁()近似等于密度/中子交會(huì)孔隙度。
井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí),發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的,與介質(zhì)的電阻率()。