多項(xiàng)選擇題電磁超聲可以像傳統(tǒng)的壓電晶片換能器一樣,在鐵磁性金屬中產(chǎn)生(),可同常規(guī)的超聲檢測一樣來檢測工件中的缺陷。

A.縱波
B.橫波
C.表面波
D.斜聲束
E.聚集聲束


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你可能感興趣的試題

1.多項(xiàng)選擇題液浸法按檢測方式不同可分為()

A.表面液浸式
B.深度液浸式
C.側(cè)面液浸式
D.全浸沒式
E.局部浸沒式

2.多項(xiàng)選擇題接觸法探傷的缺點(diǎn)是()

A.耦合不易穩(wěn)定
B.被檢表面要求粗糙度較小
C.手工操作受人為因素影響大
D.超聲波在界面的反射能量損失大
E.需采用較高的增益

3.多項(xiàng)選擇題接觸法探傷的優(yōu)點(diǎn)是()

A.操作方便
B.適用現(xiàn)場檢測,成本低
C.要求被檢表面的粗糙度較小
D.耦合容易穩(wěn)定
E.直接耦合,入射聲能損失少

4.多項(xiàng)選擇題衍射時(shí)差法的主要優(yōu)點(diǎn)是()

A.衍射信號與缺陷的方向無關(guān)
B.缺陷檢出率高
C.超聲波束覆蓋區(qū)域大
D.缺陷高度測量精確
E.實(shí)時(shí)成像快速分析

5.多項(xiàng)選擇題根據(jù)缺陷相對聲壓反射率及其分貝差,可以進(jìn)行()

A.確定缺陷當(dāng)量大小
B.計(jì)算靈敏度調(diào)節(jié)量
C.孔形換算
D.制作AVG曲線
E.確定缺陷形狀

最新試題

對于圓柱體而言,外圓徑向檢測實(shí)心圓柱體時(shí),入射點(diǎn)處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。

題型:判斷題

衍射時(shí)差法探傷,當(dāng)有缺陷存在時(shí),在直通波和底面反射波之間,接收探頭會接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。

題型:判斷題

動態(tài)范圍的最小信號可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。

題型:判斷題

液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過一段液體后再進(jìn)入試件的檢測的方法。

題型:判斷題

對于橫波斜探頭而言,不同K值的探頭的靈敏度不同,因此探頭K值偏差也會影響缺陷的定量。

題型:判斷題

超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴(yán)重,定量會受到影響。

題型:判斷題

當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時(shí),而又沒有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償,會使定量誤差增加,精度下降。

題型:判斷題

無論聲波相對于缺陷是垂直入射還是斜入射,缺陷大小不同其反射波的指向性有相當(dāng)大的差異。

題型:判斷題

當(dāng)探頭的性能不佳時(shí)出現(xiàn)兩個(gè)主聲束,發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)很難判斷是哪個(gè)主聲束發(fā)現(xiàn)的,因此也就難以確定缺陷的實(shí)際位置。

題型:判斷題

對于圓柱體而言,外圓徑向檢測實(shí)心圓柱體時(shí),入射點(diǎn)處的回波聲壓實(shí)際上由于圓柱面耦合不及平面,因而其回波高于平底面,會使定量誤差增加。

題型:判斷題