A.輸出總電荷量Q=Ne=eE/W
B.外電路的電流形狀有兩個(gè)平臺(tái)，一個(gè)高而短，一個(gè)低而長
C.電壓信號(hào)形狀與電子離子對(duì)產(chǎn)生位置無關(guān)
D.電流信號(hào)形狀與電子離子對(duì)產(chǎn)生位置有關(guān)
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A.可以測量單個(gè)粒子的時(shí)間信息
B.不能夠測量單個(gè)粒子的能量信息
C.脈沖電離室只能輸出電壓信號(hào)，不能輸出電流信號(hào)和電荷信號(hào)
D.脈沖電離室的測量精度與復(fù)合、吸附、擴(kuò)散等物理過程無關(guān)
A.相鄰兩個(gè)信號(hào)的時(shí)間間隔服從泊松分布
B.原子核的衰變與帶電粒子在介質(zhì)中的碰撞都可看做是互相獨(dú)立的
C.法諾分布比泊松分布更好的符合輻射測量的實(shí)際情況
D.能量分辨率服從的是高斯分布
A.因?yàn)榭倢?shí)驗(yàn)時(shí)間一定，所以就不要測量本底了
B.測量時(shí)間平分為兩半，一半測量本底，一半測量樣品與本底的和，測量的凈計(jì)數(shù)率誤差最小
C.若知道本底及樣品大致的計(jì)數(shù)率，可以分配測量時(shí)間：測量時(shí)間之比等于計(jì)數(shù)率之比
D.若本底計(jì)數(shù)率約為100/s，樣品計(jì)數(shù)率約為800/s，測量時(shí)間總共10min，則應(yīng)測量本底2.5min，測量樣品及本底7.5min
A.需要測量樣品+本底，及僅有本底的兩種情況，相減得凈計(jì)數(shù)
B.凈計(jì)數(shù)率的標(biāo)準(zhǔn)偏差為sqrt（Ns/ts2+Nb/tb2）
C.若兩次的測量時(shí)間ts=tb=t，則其對(duì)凈計(jì)數(shù)率的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差沒有影響
D.若兩次的測量時(shí)間ts≠tb，則其對(duì)凈計(jì)數(shù)率的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差沒有影響
A.設(shè)平均計(jì)數(shù)為N0，則t時(shí)間內(nèi)平均計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)偏差為1/N0
B.平均計(jì)數(shù)N0可作為t時(shí)間內(nèi)計(jì)數(shù)值的數(shù)學(xué)期望的估計(jì)值
C.設(shè)平均計(jì)數(shù)為N0，則t時(shí)間內(nèi)平均計(jì)數(shù)的方差為N0/k
D.測量時(shí)間t不影響平均計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)偏差
最新試題
測量厚樣品α源，下列說法正確的是（）。
關(guān)于延遲符合，下列描述錯(cuò)誤的是（）。
小立體角法是測量α源活度的手段之一，關(guān)于此方法的描述錯(cuò)誤的是（）。
下列對(duì)中子與原子核的反應(yīng)截面的描述不正確的是（）。
下列哪項(xiàng)不屬于中子探測方法？（）
下列對(duì)于常用的中子探測器的描述不正確的是（）。
改變下列哪項(xiàng)不會(huì)對(duì)活度探測產(chǎn)生明顯影響？（）
測量β射線的活度，下列說法錯(cuò)誤的是（）。
同位素中子源不包括哪一種？（）
下列關(guān)于符合曲線描述錯(cuò)誤的是（）。