A.計量型控制圖、計數(shù)型控制圖
B.X-R圖、X-S圖
C.P圖、U圖
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A.樣本和總體的差異
B.X-bar圖和R圖的差異
C.中位數(shù)和平均值的差異
D.一組數(shù)據(jù)的最大值和最小值之差
E.σ值和標(biāo)準(zhǔn)差的差異
A.計算CPK的前提是過程呈正態(tài)分布
B.初始能力分析就是要確保過程能力CPK≥1.33
C.若過程不受控時,過程變差是由普通原因和特殊原因的疊加
D.在同一過程狀態(tài)下,計算的Cp≥Cpk
A.中值
B.規(guī)格限
C.控制限
D.極差
A.連續(xù)25點在控制線內(nèi)
B.連續(xù)35點最多有一點出界
C.連續(xù)100點最多有兩點出界
D.連續(xù)100點最多有三點出界
A.查明原因
B.采取措施、加以消除、不再出現(xiàn)
C.納入標(biāo)準(zhǔn)
D.以上均正確
最新試題
采用塞規(guī)卡規(guī)測量產(chǎn)品,嚴(yán)格而言,屬于哪種測量系統(tǒng)?()
計量型MSA中依據(jù)以下哪幾項判定系統(tǒng)是否可接收?()
什么是測量設(shè)備的偏倚?()
破壞型MSA使用什么方法進行分析?()
如果取樣不能代表制造過程的變異,合適的評價指標(biāo)是()。
Xbar管制圖中大部分點落在管制界限之內(nèi),代表觀測的變異主要部分來源于()。
衡量一個量測系統(tǒng)好壞的指標(biāo)是()。
量測系統(tǒng)指針(%Contribution)是衡量量測系統(tǒng)變異占觀測總變異的百分比,某量測系統(tǒng)%Contribution=9.5%,則該量測系統(tǒng)()。
運用均值極差法對GRR分析時,量具可接受的判定準(zhǔn)則為()。
什么是測量設(shè)備的線性?()