A.可以直接在帶棱邊的工件上調(diào)整時(shí)基線
B.工件表面的外來物對(duì)聲波衰減有明顯作用
C.通過手指觸摸可以容易地找到反射點(diǎn)
D.以上都是
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你可能感興趣的試題
A.檢測(cè)技術(shù)的選擇是否正確
B.檢測(cè)過程的操作是否正確
C.缺陷評(píng)定方法是否正確
D.以上都是
A.由于缺陷取向的影響;大尺寸缺陷的回波比小尺寸缺陷的回波高
B.由于缺陷形狀的影響;圓片形缺陷的回波比圓柱形缺陷的回波高
C.由于缺陷性質(zhì)的影響;氣孔缺陷的回波比夾雜缺陷的回波高
D.由于缺陷表面的影響;對(duì)于傾斜缺陷,粗糙面的回波比光滑面的回波高
A.有已知聲速的平面試樣
B.待測(cè)件厚度可以測(cè)量
C.時(shí)基線調(diào)整要準(zhǔn)確
D.以上都是
A.用已知厚度試塊,通過校準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量
B.為了準(zhǔn)確測(cè)量,需要使用不同厚度的兩塊試塊進(jìn)行校準(zhǔn)
C.測(cè)量時(shí),需要了解被測(cè)件的聲速
D.以上都是
A.5mm
B.10mm
C.20mm
D.40mm
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
儀器水平線性影響()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
單探頭法容易檢出()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
()是影響缺陷定量的因素。