A.clock skew B.組合電路的最大延遲 C.FF的Setup時(shí)間 D.FF的Hold時(shí)間
A.Distributed BIST B.Direct Access C.Test Bus D.Boundary Scan
A.由于內(nèi)嵌測試模式發(fā)生器,不需要額外生成測試模式 B.由于只輸出GO/NOGO,故障分析很困難 C.由于內(nèi)嵌測試輸出評(píng)估部,不需要高價(jià)測試設(shè)備,可降低成本 D.不可用于Burn-In測試