A.25%
B.50%
C.75%
D.100%
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A.距入射點(diǎn)約50.2mm、埋深38.6mm處
B.距入射點(diǎn)約56.5mm、埋深43.4mm處
C.距入射點(diǎn)約70.4mm、埋深22.3mm處
D.距入射點(diǎn)約80.1mm、埋深.16.5mm處
A.14°
B.22°
C.32°
D.45°
A.由于分離出較強(qiáng)的橫波,縱波反射系數(shù)很低
B.由于分離出較強(qiáng)的橫波,縱波衰減嚴(yán)重
C.由于分離出較強(qiáng)的橫波,可以接收到反射橫波
D.以上都是
A.存在聲能集中區(qū)
B.下盲區(qū)小
C.掃查時(shí),隔聲層應(yīng)盡量與缺陷方向垂直
D.以上都是
A.在尖銳的邊緣拐角發(fā)生繞射
B.在尖銳的邊緣拐角發(fā)生反射
C.被尖銳的邊緣拐角吸收
D.以上都可能發(fā)生
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。