若評片燈亮度增為原來的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>

對于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會產(chǎn)生特征X射線的。

使用變型波檢測的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）

超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是（）

射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識別性主要決定于（）

一般認(rèn)為表面波探測的有效深度約為（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）

以下試塊中，能用于測定縱波直探頭分辨力的是（）

超聲波斜探頭的K值等于（）的正切值。

對于平行于檢測面的缺陷，一般采用（）檢測。