A.系統(tǒng)誤差影響測(cè)量的準(zhǔn)確度,偶然誤差影響系統(tǒng)的精密度
B.核事件的統(tǒng)計(jì)漲落是核測(cè)量中常見的偶然誤差
C.未考慮核反應(yīng)分支比而造成測(cè)量結(jié)果與預(yù)期結(jié)果存在較大差距屬于系統(tǒng)誤差導(dǎo)致的準(zhǔn)確度降低
D.使用理想的儀器測(cè)量核事件,可以去掉統(tǒng)計(jì)漲落的影響
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A.經(jīng)過足夠多的重復(fù)實(shí)驗(yàn),可以發(fā)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)儀器的系統(tǒng)誤差
B.經(jīng)過足夠多的重復(fù)實(shí)驗(yàn),可以降低測(cè)量過程中的偶然誤差
C.實(shí)驗(yàn)儀器的不精確、實(shí)驗(yàn)步驟設(shè)計(jì)不科學(xué)都屬于系統(tǒng)誤差
D.實(shí)驗(yàn)室溫度、研究人員的工作狀態(tài)對(duì)測(cè)量的影響屬于偶然誤差
A.均方根偏差可以為負(fù)數(shù)
B.均方根偏差越大,則相對(duì)均方根偏差也必然越大
C.均方根偏差與相對(duì)均方根偏差在實(shí)際測(cè)量中是一個(gè)意思
D.相對(duì)均方根偏差越小,則測(cè)量越精確
A.二者都是常用的統(tǒng)計(jì)參數(shù)
B.對(duì)于一個(gè)隨機(jī)變量而言,它的數(shù)學(xué)期望、方差的量綱是不同的
C.實(shí)驗(yàn)次數(shù)有限時(shí),算術(shù)平均值等于數(shù)學(xué)期望
D.方差描述的是隨機(jī)變量偏離均值的程度
A.可以近似為指數(shù)衰減過程
B.會(huì)有一定的最大射程
C.半衰減厚度就是此時(shí)的平均自由程
D.水、冰、水蒸氣的線性衰減系數(shù)相同
A.反散射峰的產(chǎn)生原因就是康普頓效應(yīng)
B.康普頓截面與介質(zhì)原子電荷量的2次方成正比
C.散射光子的能量是連續(xù)的,但是反沖電子的能量不連續(xù)
D.如果γ射線與探測(cè)器外的物質(zhì)發(fā)生了康普頓效應(yīng),則不可能探測(cè)到這個(gè)γ光子的信息
最新試題
對(duì)于(D,D)反應(yīng)和(D,T)反應(yīng),下列描述正確的是()。
對(duì)于β射線活度測(cè)量的諸多修正的描述錯(cuò)誤的是()。
測(cè)量β射線的活度,下列說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
關(guān)于24Na-9Be中子源的描述不正確的是()。
幾何因素對(duì)探測(cè)器測(cè)量活度的影響描述正確的是()。
下列對(duì)探測(cè)器本征探測(cè)效率沒有影響的是()。
下列關(guān)于符合曲線描述錯(cuò)誤的是()。
常見的241Am-9Be中子源中,9Be的作用是()。
關(guān)于延遲符合,下列描述錯(cuò)誤的是()。
中子與物質(zhì)的相互作用不包括以下哪一種?()