A.0.85mm
B.0.50mm
C.5.27mm
D.0.23mm
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A.在大于50℃時(shí)進(jìn)行TOFD檢測(cè)
B.在100℃時(shí)進(jìn)行TOFD檢測(cè)
C.在150℃時(shí)進(jìn)行TOFD檢測(cè)
D.在200℃時(shí)進(jìn)行TOFD檢測(cè)
A.波束擴(kuò)散越大,近場(chǎng)長(zhǎng)度N越小,輻射超聲能量越低
B.波束擴(kuò)散越大,近場(chǎng)長(zhǎng)度N越小,國(guó)投超聲能量越高
C.波束擴(kuò)散越大,近場(chǎng)長(zhǎng)度N越大,輻射超聲能量越低
D.波束擴(kuò)散越小,近場(chǎng)長(zhǎng)度N越小,輻射超聲能量越氏
A.近場(chǎng)長(zhǎng)度N越大,分辨力越差,上表面盲區(qū)越大
B.近場(chǎng)長(zhǎng)度N越小,分辨力越好,上表面盲區(qū)越大
C.近場(chǎng)長(zhǎng)度N越小,分辨力越差,上表面盲區(qū)越小
D.近場(chǎng)長(zhǎng)度N越小,分辨力越差,上表面盲區(qū)越大
A.窄波束擴(kuò)展來(lái)提高縱向分辨力
B.窄波束擴(kuò)展來(lái)確保受檢區(qū)域的履蓋
C.寬波束來(lái)提高橫向分辨力
D.寬波束來(lái)覆蓋被檢測(cè)的整個(gè)焊縫區(qū)域
A.底面波受干擾
B.單個(gè)衍射信號(hào)在直通波和底面波之間
C.兩個(gè)相反相位的衍射信號(hào)在直通波和底面波之間
D.兩個(gè)相反相位的衍射信號(hào)在直通波和底面波形轉(zhuǎn)換波之間
最新試題
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
影響較大的散射線通常來(lái)自()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。