A.掃查方式
B.掃查速度
C.掃查間距
D.以上都是
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A.缺陷反射波高度
B.背反射損失
C.沿試件表面測(cè)量出的缺陷延伸范圍
D.以上都是
A.在確定的檢測(cè)條件下,缺陷的大小可用波高值來(lái)表示
B.缺陷反射面小于入射聲束截面時(shí),可用底面回波高度法進(jìn)行評(píng)定
C.缺陷回波幅度與人工反射體回波幅度進(jìn)行比較,稱為當(dāng)量評(píng)定法
D.以上都是
A.試塊對(duì)比
B.當(dāng)量計(jì)算
C.AVG曲線
D.以上都是
A.將接觸法檢驗(yàn)改為液浸法檢驗(yàn)
B.將縱波檢驗(yàn)改為橫波檢驗(yàn)
C.用直徑較小的探頭進(jìn)行檢驗(yàn)
D.用直徑較大的探頭進(jìn)行檢驗(yàn)
A.φ0.8mm
B.φ1.0mm
C.φ2.0mm
D.φ4.0mm
最新試題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。