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A.聲程
B.至探測(cè)面的垂直距離
C.深入探測(cè)面的深度
D.A和B
A.主聲束掃描不到的區(qū)域
B.近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的距離
C.非擴(kuò)散區(qū)的長(zhǎng)度
D.被始脈沖寬度所覆蓋的距離
A.水平線性、垂直線性、衰減器精度
B.動(dòng)態(tài)范圍、頻帶寬度、探測(cè)深度
C.垂直極限、水平極限、重復(fù)頻率
D.靈敏度余量、盲區(qū)、遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力
A.清洗器
B.聲透鏡
C.斜楔
D.延遲塊
A.愈大
B.愈小
C.不變
D.不一定
最新試題
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過(guò)一段液體后再進(jìn)入試件的檢測(cè)的方法。
檢測(cè)曲面工件時(shí),探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。
缺陷垂直時(shí),擴(kuò)散波束入射至缺陷時(shí)回波較高,而定位時(shí)就會(huì)誤認(rèn)為缺陷在軸線上,從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測(cè)量精確,實(shí)時(shí)成像,快速分析。
發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度,它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。
對(duì)于比正??v波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。
為了減少側(cè)壁的影響,必要時(shí)可采用試塊比較法進(jìn)行定量,以便提高定量精度。
分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測(cè)量,測(cè)試時(shí)儀器抑制置“零”或“開”位,必要時(shí)可加匹配線圈。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
對(duì)于橫波斜探頭而言,不同K值的探頭的靈敏度不同,因此探頭K值偏差也會(huì)影響缺陷的定量。