單項(xiàng)選擇題芯片與探測(cè)面平行,使超聲波垂直與探測(cè)進(jìn)入材料的檢驗(yàn)方法稱(chēng)為()。

A.直射法
B.斜射法
C.表面波法
D.上述三種都不對(duì)


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1.單項(xiàng)選擇題射線源的尺寸過(guò)大,采用()方法彌補(bǔ)。

A.增加射線源到被檢物體的距離
B.加鉛屏
C.增加半影
D.增加被檢膠片的距離

2.單項(xiàng)選擇題射線照片圖像的密度是指()。

A.膠片厚度
B.試件厚度
C.膠片的品質(zhì)
D.膠片的黑度

3.單項(xiàng)選擇題已知X射線機(jī)的焦點(diǎn)尺寸,可計(jì)算()。

A.輸出電流
B.射線強(qiáng)度
C.幾何不清晰度
D.距離

5.單項(xiàng)選擇題超聲波換能器通常使用壓電材料制成的,下列哪一種不是壓電材料()。

A.鋯鈦酸鉛
B.石英
C.鈦酸鋇
D.鎳