A.單個(gè)絕對(duì)式線圈
D.雙個(gè)絕對(duì)式線圈
C.直流磁飽和線圈
D.差動(dòng)式線圈
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A.在試樣中感應(yīng)出渦流
B.檢出渦流的變化
C.在試樣中感應(yīng)出渦流和檢出渦流的變化
D.提供直流磁飽和
A.絕對(duì)式繞組
B.次級(jí)繞組
C.相位繞組
D.上述的都不是
A.線圈中試樣的電導(dǎo)率
B.線圈中試樣的磁導(dǎo)率
C.填充系數(shù)
D.上述的三項(xiàng)
A.引起流過(guò)檢驗(yàn)線圈的電流的增加
B.引起流過(guò)檢驗(yàn)線圈的電流的減少
C.對(duì)流過(guò)檢驗(yàn)線圈的電流無(wú)影響
D.使加到線圈的電壓降低
A.100HZ
B.10KHZ
C.1MHZ
D.10MHZ
最新試題
航天無(wú)損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí):Ⅰ級(jí)為初級(jí),Ⅱ級(jí)為中級(jí),Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有()。
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。
補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過(guò)底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。
檢測(cè)申請(qǐng)時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗(yàn)蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗(yàn)、檢測(cè)等全過(guò)程具有可追溯性。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
X射線檢測(cè)人員健康體檢為每()年一次。
下面給出的射線檢測(cè)基本原理中,正確的是()。
缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。