A.氣孔
B.夾渣
C.裂紋
D.夾鎢
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A.檢測(cè)用儀器和設(shè)備的性能應(yīng)每年進(jìn)行一次檢定(校準(zhǔn)),并有記錄可查
B.黑度計(jì)至少每6個(gè)月校驗(yàn)一次
C.射線設(shè)備更換重要部件應(yīng)及時(shí)對(duì)曝光曲線進(jìn)行校驗(yàn)或重新制作
D.對(duì)使用中的曝光曲線,每年至少應(yīng)校驗(yàn)一次
A.公稱厚度:受檢工件名義厚度,不考慮材料制造偏差和加工減薄
B.焦距:沿射線束中心測(cè)定的工件受檢部位表面與膠片之間的距離
C.圓形缺陷:長寬比小于或等于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷
D.小徑管:外直徑D0小于或等于100mm的管子
A.雙壁單影透照像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)
B.當(dāng)像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí),應(yīng)在像質(zhì)計(jì)上適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記,“F”標(biāo)記影象應(yīng)與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記同時(shí)出現(xiàn)在底片上,且應(yīng)在檢測(cè)報(bào)告中注明
C.單壁透照時(shí)允許像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè),但必須進(jìn)行對(duì)比試驗(yàn)
D.當(dāng)一張膠片上同時(shí)透照多條焊接接頭時(shí),至少在第一條、中間一條和最后一條焊接接頭處各放一個(gè)置像質(zhì)計(jì)
A.X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓
B.γ射線照相時(shí),總的曝光時(shí)間應(yīng)不小于輸送源所需時(shí)間的10倍
C.X射線照相,當(dāng)焦距為700mm時(shí),曝光量的推薦值為:AB級(jí)不小于15mA.min
D.X射線照相在采用較高管電壓時(shí),應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬?/p>
A.電源電壓下降超過10%時(shí),黑光燈輸出功率將大大降低
B.電源電壓波動(dòng)超過10%時(shí),對(duì)人眼損傷較大
C.電源電壓過低嚴(yán)重影響檢測(cè)靈敏度
D.電源電壓過高嚴(yán)重影響黑光燈壽命
最新試題
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
探頭的分辨力()
物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變()
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
對(duì)軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí),該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()