單項(xiàng)選擇題不論什么樣的放電,都是由于絕緣材料耐受不住外施()所形成的電場(chǎng)強(qiáng)度所致。

A.溫度
B.濕度
C.電流
D.電壓


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1.多項(xiàng)選擇題下列原因中,產(chǎn)生局部放電的原因有()。

A.由于絕緣體內(nèi)部或表面存在氣隙(泡)而導(dǎo)致氣隙(泡)內(nèi)的放電
B.絕緣體中若有導(dǎo)電雜質(zhì)存在,則在此雜質(zhì)邊緣由于電場(chǎng)集中,也會(huì)出現(xiàn)局部放電
C.在高電壓端頭上,如電纜的端頭等部位,由于電場(chǎng)集中,而且沿面放電的場(chǎng)強(qiáng)比較低,往往就沿著介質(zhì)與空氣的交界面上產(chǎn)生表面局部放電
D.絕緣結(jié)構(gòu)形式

2.多項(xiàng)選擇題在交流電壓下,兩種不同介電系數(shù)的絕緣串聯(lián)使用,哪個(gè)說(shuō)法不正確()

A.電壓高
B.電場(chǎng)強(qiáng)度高
C.電流大
D.電流密度高
E.泄漏電流大

3.多項(xiàng)選擇題通過(guò)做變壓器短路試驗(yàn),可以發(fā)現(xiàn)變壓器的缺陷有()。

A.變壓器各金屬結(jié)構(gòu)件(如電容環(huán)、壓板、夾件等)或油箱壁中,由于漏磁通所致的附加損耗過(guò)大
B.油箱蓋或套管法蘭等的渦流損耗過(guò)大
C.其它附加損耗的增加
D.繞組的并繞導(dǎo)線有短路或錯(cuò)位

4.多項(xiàng)選擇題非額定條件下的空載試驗(yàn)是指哪些條件()。

A.降低電壓試驗(yàn)
B.非額定頻率下的空載試驗(yàn)
C.電壓波形的校正
D.電流波形的校正

5.多項(xiàng)選擇題對(duì)運(yùn)行的懸式絕緣子串中劣化絕緣子的檢出測(cè)量,可以采用的試驗(yàn)方法有()。

A.測(cè)量電位分布
B.火花間隙放電
C.熱紅外測(cè)量
D.測(cè)量絕緣電阻

最新試題

GIS耐壓試驗(yàn)之前,進(jìn)行老化(凈化)試驗(yàn)的目的是:使設(shè)備中可能存在的活動(dòng)微粒雜質(zhì)遷移到低電場(chǎng)區(qū),并通過(guò)放電燒掉細(xì)小微?;螂姌O上的毛刺、附著的塵埃,以恢復(fù)GIS絕緣強(qiáng)度,避免不必要的破壞或返工。

題型:判斷題

交流耐壓試驗(yàn)電壓波形應(yīng)是正弦或接近正弦,兩個(gè)半波應(yīng)完全一樣,且波頂因數(shù)即峰值與有效值之比應(yīng)等于√2±0.07。

題型:判斷題

雙斷口的SF6系列斷路器有兩個(gè)斷口,為了使各個(gè)斷口在分、合閘時(shí)承受接近均等的電壓,一般用電容進(jìn)行均壓。

題型:判斷題

當(dāng)電力設(shè)備的額定電壓與實(shí)際使用的額定電壓不同時(shí),當(dāng)采用額定電壓較高的設(shè)備作為代用時(shí),應(yīng)按照實(shí)際使用的額定電壓確定其試驗(yàn)電壓。

題型:判斷題

超高頻局部放電試驗(yàn)?zāi)軌虬l(fā)現(xiàn)設(shè)備內(nèi)部發(fā)熱、放電及絕緣缺陷。

題型:判斷題

液壓機(jī)構(gòu)的合閘電磁鐵的動(dòng)鐵心卡死,是造成不能可靠合閘的重大隱患。

題型:判斷題

真空斷路器具有體積小、重量輕、維護(hù)工作量小等優(yōu)點(diǎn),適用于超高壓系統(tǒng)。

題型:判斷題

將兩臺(tái)試驗(yàn)變壓器串級(jí)進(jìn)行交流耐壓試驗(yàn)時(shí),若第一級(jí)試驗(yàn)變壓器串級(jí)繞組極性接反,會(huì)造成最終輸出試驗(yàn)電壓為零。

題型:判斷題

絕緣良好的tgδ不隨電壓的升高而明顯增加。若絕緣內(nèi)部有缺陷,則其tgδ將隨電壓的升高而明顯增加。

題型:判斷題

將并聯(lián)有晶閘管閥及其電抗器的電容器串接于輸電線路中,并配有旁路斷路器、隔離開(kāi)關(guān)、串補(bǔ)平臺(tái)、支撐絕緣子、控制保護(hù)系統(tǒng)等附屬設(shè)備組成的裝置,簡(jiǎn)稱可控串補(bǔ)。

題型:判斷題