A.儀器下放井底前先在測(cè)量井段上部測(cè)量
B.儀器下放井底前先在測(cè)量井段下部測(cè)量
C.主曲線測(cè)完后在測(cè)量井段上部測(cè)量
D.主曲線測(cè)完后在測(cè)量井段下部測(cè)量
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A.10
B.20
C.25
D.50
A.1500
B.2000
C.2500
D.4000
A.測(cè)速和磁記號(hào)
B.測(cè)速和時(shí)間標(biāo)記
C.磁記號(hào)和張力曲線
D.測(cè)速、張力曲線、時(shí)間標(biāo)記和磁記號(hào)
A.幅度變小，半幅點(diǎn)上移
B.幅度變小，半幅點(diǎn)下移
C.幅度變大，半幅點(diǎn)上移
D.幅度變大，半幅點(diǎn)下移
A.測(cè)井速度是根據(jù)儀器特性、處理軟件和地質(zhì)要求確定的
B.測(cè)速過(guò)快將降低儀器縱向分辨率
C.幾種儀器組合時(shí)應(yīng)采用最低測(cè)速儀器的測(cè)速
D.測(cè)速過(guò)快影響曲線幅度，但對(duì)深度沒(méi)有影響
最新試題
當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí)，孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的絕對(duì)誤差小于（）。
利用多極子聲波測(cè)井可以更好地獲得硬地層和軟地層的縱波、橫波和（）等特征參數(shù)。
核磁共振弛豫包括（）。
脈沖中子能譜測(cè)井儀的主要用途是什么？
電容法持水率計(jì)的現(xiàn)場(chǎng)刻度要求是什么？
VSP 測(cè)井是一種高分辨率的（）勘探技術(shù)。
（）古潛山是指一定地質(zhì)時(shí)期由褶皺作用形成的古山頭，潛山本身就是一個(gè)背斜。
在（）的概念中，沉積環(huán)境和沉積巖特征的辯證關(guān)系是：沉積環(huán)境是形成沉積巖特征的決定因素，沉積巖特征則是沉積環(huán)境的物質(zhì)表現(xiàn)。
井壁微電阻率掃描成像儀器的電扣越小，分辨率（），井壁電阻率掃描圖像越清晰。
平移斷層斷層面一般較陡，可以是平直的，也可以是彎曲的。平移斷層在剖面上（）。