簡單立方結構材料發(fā)生衍射時，可以產生衍射的晶面為（）。

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對應區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對應區(qū)域的原子序數(shù)。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。

熱分析中，不同性質的氣氛對測試結果沒有影響。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

在電子探針面分析中，根據圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

當?shù)挂浊蚺c反射球相交，交線是一個圓環(huán)，環(huán)上每一點都滿足衍射條件，可以產生衍射。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。

在體心點陣中，當（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時，產生系統(tǒng)消光。