儀器時基線調節(jié)比例時，若回波前沿沒有對準相應垂直刻度或讀數不準，會使缺陷定位誤差增加。

水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。

衍射時差法對缺陷檢出率高，超聲波束覆蓋區(qū)域大，缺陷高度測量精確，實時成像，快速分析。

缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準反射體聲壓之比。

在檢測晶粒粗大和大型工件時，應測定材料的衰減系數，計算時應考慮介質衰減的影響。

衍射時差法對缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。

對于橫波斜探頭而言，不同K值的探頭的靈敏度不同，因此探頭K值偏差也會影響缺陷的定量。

超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴重，定量會受到影響。

超聲波在圓柱內反射，如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉換，且一次反射橫波再經另一側圓柱面波形轉換成二反射縱波，返回探頭接收，會形成等邊的三角形遲到回波。

儀器時基線比例一般在試塊上調節(jié)，當工件與試塊的聲速不同時，儀器的時基線比例發(fā)生變化，影響缺陷定位精度。