A.變形監(jiān)測(cè)的儀器
B.變形監(jiān)測(cè)的目的
C.變形值的大小
D.變形監(jiān)測(cè)的人員配置
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A.儀器的對(duì)中誤差
B.角度的測(cè)量誤差
C.距離的測(cè)量誤差
D.目標(biāo)瞄準(zhǔn)高量測(cè)誤差
A.觀測(cè)的建筑物性質(zhì)
B.觀測(cè)人員
C.使用儀器
D.工程進(jìn)展速度
A.標(biāo)志必須穩(wěn)定、長(zhǎng)期保存
B.照準(zhǔn)標(biāo)志的圖案要對(duì)稱
C.標(biāo)志圖案盡可能采用圓環(huán)狀
D.要防止日光照射
A.平面坐標(biāo)
B.地面高程
C.水平方向
D.井中心位置
A.真北
B.坐標(biāo)北
C.假北
D.磁北
最新試題
RTK測(cè)量的基本工作流程中，在至少（）個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)（即點(diǎn)校正）。
路線定義（主點(diǎn)法）曲線左偏時(shí)，半徑輸入為（）值。
度盤刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤位置削弱該誤差影響。
設(shè)A點(diǎn)高程1279.25m，B點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀，儀器高為1.43m，平距DAB=341.23m，觀測(cè)A點(diǎn)上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″，則由此算得B點(diǎn)的高程為（）
同步基線是利用同一時(shí)段的（）同步觀測(cè)站所采集的觀測(cè)數(shù)據(jù)所計(jì)算出的若干基線向量。
精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說(shuō)明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。
DJ2光學(xué)經(jīng)緯儀的水平度盤讀數(shù)設(shè)定方法是，應(yīng)（），使水平度盤讀數(shù)對(duì)到需要設(shè)定的度數(shù)及的整數(shù)倍，同時(shí)使符合對(duì)徑分劃線上下精確對(duì)齊。
光電測(cè)距中對(duì)向觀測(cè)的作用是減弱大氣折光、（）等對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。
若依次采用元素法、主點(diǎn)法或交點(diǎn)法三種路線定義方法，那么路線定義的最終數(shù)據(jù)為最后采用（）的定義方法所得到的有效數(shù)據(jù)。
監(jiān)測(cè)基準(zhǔn)網(wǎng)點(diǎn)位穩(wěn)定性檢驗(yàn)方法有采用最小二乘平差的檢驗(yàn)方法、（）、采用最小二乘平差和數(shù)理統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)相結(jié)合的方法。