A.根據(jù)入射角度不同，試件中可同時產(chǎn)生縱波和橫波
B.根據(jù)入射角度不同，試件中可產(chǎn)生純橫波
C.根據(jù)入射角度不同，試件中可產(chǎn)生表面波
D.以上都正確
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A.掃查方式
B.掃查速度
C.掃查間距
D.以上都是
A.缺陷反射波高度
B.背反射損失
C.沿試件表面測量出的缺陷延伸范圍
D.以上都是
A.在確定的檢測條件下，缺陷的大小可用波高值來表示
B.缺陷反射面小于入射聲束截面時，可用底面回波高度法進行評定
C.缺陷回波幅度與人工反射體回波幅度進行比較，稱為當量評定法
D.以上都是
A.試塊對比
B.當量計算
C.AVG曲線
D.以上都是
A.將接觸法檢驗改為液浸法檢驗
B.將縱波檢驗改為橫波檢驗
C.用直徑較小的探頭進行檢驗
D.用直徑較大的探頭進行檢驗
最新試題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標準來確定。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。
用折射角β的斜探頭進行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。