A.如果E（b）很大，則a的相對方差約等于b的相對方差
B.E（a）=E（b）+E（c）
C.D（a）=D（b）×D（c）
D.D（a）=E（b）×D（b）+E（c）×D（c）
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A.復(fù)雜隨機(jī)變量無法用簡單隨機(jī)變量運(yùn)算組合得到
B.兩個泊松分布隨機(jī)變量的和也一定服從泊松分布
C.兩個相互獨(dú)立的泊松分布隨機(jī)變量的差服從泊松分布
D.兩個相互獨(dú)立的泊松分布隨機(jī)變量的和服從泊松分布
A.實(shí)驗(yàn)次數(shù)N很大時，二項(xiàng)分布趨近于泊松分布
B.二項(xiàng)分布只有兩種可能的測量結(jié)果
C.泊松分布的方差等于其數(shù)學(xué)期望
D.泊松分布的期望遠(yuǎn)大于1時，其分布可簡化為高斯分布
A.系統(tǒng)誤差影響測量的準(zhǔn)確度，偶然誤差影響系統(tǒng)的精密度
B.核事件的統(tǒng)計漲落是核測量中常見的偶然誤差
C.未考慮核反應(yīng)分支比而造成測量結(jié)果與預(yù)期結(jié)果存在較大差距屬于系統(tǒng)誤差導(dǎo)致的準(zhǔn)確度降低
D.使用理想的儀器測量核事件，可以去掉統(tǒng)計漲落的影響
A.經(jīng)過足夠多的重復(fù)實(shí)驗(yàn)，可以發(fā)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)儀器的系統(tǒng)誤差
B.經(jīng)過足夠多的重復(fù)實(shí)驗(yàn)，可以降低測量過程中的偶然誤差
C.實(shí)驗(yàn)儀器的不精確、實(shí)驗(yàn)步驟設(shè)計不科學(xué)都屬于系統(tǒng)誤差
D.實(shí)驗(yàn)室溫度、研究人員的工作狀態(tài)對測量的影響屬于偶然誤差
A.均方根偏差可以為負(fù)數(shù)
B.均方根偏差越大，則相對均方根偏差也必然越大
C.均方根偏差與相對均方根偏差在實(shí)際測量中是一個意思
D.相對均方根偏差越小，則測量越精確
最新試題
下列關(guān)于真符合的描述錯誤的是（）。
下列關(guān)于反符合的描述正確的是（）。
測量厚樣品α源，下列說法正確的是（）。
小立體角法是測量α源活度的手段之一，關(guān)于此方法的描述錯誤的是（）。
下列對探測器本征探測效率沒有影響的是（）。
常見的241Am-9Be中子源中，9Be的作用是（）。
關(guān)于符合的描述，下列說法正確的是（）。
下列關(guān)于同位素源的特點(diǎn)的描述不正確的是（）。
關(guān)于加速器中子源，描述錯誤的是（）。
對偶然符合描述正確的是（）。