A.試產(chǎn)后
B.生產(chǎn)PPAP樣件后
C.DR(產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證)關(guān)閉前
D.量產(chǎn)后
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A.列表建議規(guī)格范圍
B.直方圖顯示數(shù)據(jù)超規(guī)狀況
C.Ppk=1.67或2的規(guī)格范圍和分布圖
D.說明數(shù)據(jù)超規(guī)格不良率,要求放松規(guī)格范圍
A.標(biāo)準(zhǔn)差
B.抽樣方法
C.規(guī)格值
D.過程穩(wěn)定后算Ppk
E.過程未穩(wěn)定算Cpk
A.計(jì)量型控制圖、計(jì)數(shù)型控制圖
B.X-R圖、X-S圖
C.P圖、U圖
A.樣本和總體的差異
B.X-bar圖和R圖的差異
C.中位數(shù)和平均值的差異
D.一組數(shù)據(jù)的最大值和最小值之差
E.σ值和標(biāo)準(zhǔn)差的差異
A.計(jì)算CPK的前提是過程呈正態(tài)分布
B.初始能力分析就是要確保過程能力CPK≥1.33
C.若過程不受控時(shí),過程變差是由普通原因和特殊原因的疊加
D.在同一過程狀態(tài)下,計(jì)算的Cp≥Cpk
最新試題
什么是測量設(shè)備的偏倚?()
以下哪個(gè)不是測量系統(tǒng)精確性分析中評估者的偏差的來源(再現(xiàn)性)?()
在測量系統(tǒng)分析中,下面哪個(gè)NDC會肯定認(rèn)為測量系統(tǒng)精確性不合格?()
下列描述測量值位置精度的是()。
進(jìn)行測量系統(tǒng)的GRR分析的首要前提條件是()。
對于重復(fù)性和再現(xiàn)性分析,可以評價(jià)方差分量貢獻(xiàn)率,的接受指標(biāo)為()。
重復(fù)性和再現(xiàn)性分析,Minitab提供兩種分析方法可選,應(yīng)該優(yōu)先選擇()。
如果精確性不合適,降低精確性誤差的最好方法是()。
如果經(jīng)分析發(fā)現(xiàn)測量工具的偏倚是正值,規(guī)范上限邊緣的合格產(chǎn)品會怎樣?()
什么是測量設(shè)備的穩(wěn)定性?()