爬波在自由表面的位移有垂直分量，但不是純粹的表面波。

衍射時(shí)差法對(duì)缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。

缺陷垂直時(shí)，擴(kuò)散波束入射至缺陷時(shí)回波較高，而定位時(shí)就會(huì)誤認(rèn)為缺陷在軸線上，從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。

電磁超聲探頭在工件的表層內(nèi)產(chǎn)生的渦流，在外加磁場(chǎng)的作用下，在工件中形成超聲波波源。

水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。

為了減少側(cè)壁的影響，必要時(shí)可采用試塊比較法進(jìn)行定量，以便提高定量精度。

對(duì)于比正?？v波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。

非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小，聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點(diǎn)和氣孔等缺陷。

對(duì)于圓柱體而言，外圓徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱體時(shí)，入射點(diǎn)處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。

高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊，使之形成高溫耦合層。