①材料準備 ②晶體生長與晶圓準備 ③芯片制造 ④封裝
最新試題
三光檢查主要是檢查芯片粘貼和引線焊接之后有無各種廢品。
CMP的設備構成包括()。
如下哪個選項不是半導體器件制備過程中的主要污染物?()
常壓的硅外延方法有()。
濕氧氧化采用的氧化水溫是()。
鳥嘴效應造成的不良影響有()。
互連工藝中AL的制備可選用()。
刻蝕過程中聚合物形成的來源有()。
化學機械拋光液的主要成分不包括的是哪個?()
碳納米管場效應晶體管是未來晶體管發(fā)展趨勢之一。