A.汽耗大、易出現(xiàn)粘晶、晶粒數(shù)目易控制
B.汽耗大、易出現(xiàn)粘晶、晶粒數(shù)目不易控制
C.起晶時(shí)間較短、晶粒較整齊、粘晶較少、操作有一定難度,晶粒數(shù)不易控制
D.晶種質(zhì)量好、易控制晶粒數(shù)
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A.汽耗大、易出現(xiàn)粘晶、晶粒數(shù)目易控制
B.汽耗大、易出現(xiàn)粘晶、晶粒數(shù)目不易控制
C.起晶時(shí)間較短、晶粒較整齊、粘晶較少、操作有一定難度,晶粒數(shù)不易控制
D.晶種質(zhì)量好、易控制晶粒數(shù)
A.汽耗大、易出現(xiàn)粘晶、晶粒數(shù)目易控制
B.汽耗大、易出現(xiàn)粘晶、晶粒數(shù)目不易控制
C.起晶時(shí)間較短、晶粒較整齊、粘晶較少、操作有一定難度,晶粒數(shù)不易控制
D.晶種質(zhì)量好、易控制晶粒數(shù)
E.晶種質(zhì)量不穩(wěn)定、晶粒數(shù)易控制
A.以濃縮至投粉濃度時(shí),液面蓋過(guò)汽鼓、采樣器及溫度計(jì)為原則
B.以濃縮至投粉濃度時(shí),液面蓋過(guò)汽鼓為原則
C.以濃縮至投粉濃度時(shí),液面蓋壓力表為原則
D.以濃縮至投粉濃度時(shí),液面蓋過(guò)第一個(gè)視鏡為原則
A.要求在沒(méi)有幼晶的前提下,盡量控制稀一些
B.要求在沒(méi)有幼晶的前提下,盡量控制濃一些
C.越濃越有利于節(jié)省蒸汽
D.稀一點(diǎn)有利于對(duì)流循環(huán)
A.原料純度愈高愈好
B.原料純度愈低愈好
C.入料太濃,會(huì)使糖膏的過(guò)飽和度急驟增加而生成偽晶
D.入料太稀濃,會(huì)產(chǎn)生局部溶晶或降低結(jié)晶速度
最新試題
甲糖膏煮煉過(guò)程需要的原料有:()。
壓榨過(guò)程中衡量壓榨能力和效率的是()。
汽凝水排除不良,汽鼓有撞擊聲的原因有()。
煮糖過(guò)程中,判斷吸收良好的糖表現(xiàn)是:()。
煮糖過(guò)程中,關(guān)于底料入罐溫度說(shuō)法正確的是:()。
下面屬于蒸發(fā)罐物理除垢的方法有()。
加熱的主要作用是()。
影響沉降速度的因素()。
提高過(guò)濾速度,增大過(guò)濾的推動(dòng)力是()。
煮糖過(guò)程中,汽鼓壓力變化判斷糖膏濃度變化說(shuō)法正確的是:()。