集成電路技術(shù)綜合練習(xí)章節(jié)練習(xí)(2018.02.16)
來源:考試資料網(wǎng)參考答案:系統(tǒng)級設(shè)計、功能驗證、IC綜合及布局布線、模擬混合信號及射頻IC設(shè)計、全制定集成電路設(shè)計、IC物理驗證、PCB設(shè)計和硬件...
參考答案:
互連、接觸、栓塞
參考答案:
注氧隔離技術(shù)、鍵合減薄技術(shù)、智能剝離技術(shù)。
參考答案:
工序目的:去除表面因加工應(yīng)力而形成的損傷層及污染
參考答案:區(qū)別:手工設(shè)計集成電路或單元中,幾何設(shè)計規(guī)則是圖形編輯的依據(jù),電學(xué)設(shè)計規(guī)則是分析計算的依據(jù)。VLSI設(shè)計中,幾何設(shè)計規(guī)則...
8.問答題為什么說MOS電容的組成復(fù)雜?
參考答案:
MOS管有多層介質(zhì):在柵極電極的下面有一層SIO2介質(zhì)SIO2下面是P型襯底,襯底比較厚襯底電極同襯底之間必須是歐姆接觸
參考答案:
電源線上和版圖空余地方
參考答案:由于晶體管的實際結(jié)構(gòu)不對稱,特別是在集成電路中,發(fā)射區(qū)嵌套在基區(qū)內(nèi),基區(qū)嵌套在集電區(qū)內(nèi),發(fā)射結(jié)比集電結(jié)小很多反向電流放大...