(1)作為鈍化保護層 (2)ILD0的摻雜物阻擋層 (3)紫外線可以穿透的保護層 (4)作為ILD材料
最新試題
如下哪個選項不是半導體器件制備過程中的主要污染物?()
下面哪些元素屬于半徑較小的雜質(zhì)原子?()
消除鳥嘴效應的方法有()。
常壓的硅外延方法有()。
進行溝槽填充常用的金屬材料是()。
金屬化中可選用的金屬材料有()。
濕氧氧化采用的氧化水溫是()。
封裝工藝中,銀漿固化的溫度為()。
互連工藝中AL的制備可選用()。
CMP的設備構成包括()。