A、流動性
B、凝結時間
C、黏聚性
D、保水性
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A、稠度
B、凝結時間
C、碳化深度
D、泌水率
A、同一檢驗批只進行一組試驗時,應將試驗結果作為檢驗結果
B、同一檢驗批進行了一組以上試驗時,應取所有組試驗結果中的最小值作為檢驗結果
C、同一檢驗批進行了一組以上試驗時,應取所有組試驗結果中的最大值作為檢驗結果
D、同一檢驗批進行了一組以上試驗時,應取所有組試驗結果中的平均值作為檢驗結果
A、同一檢驗批只進行一組試驗時,應將試驗結果作為檢驗結果
B、同一檢驗批進行了一組以上試驗時,應取所有組試驗結果中的最小值作為檢驗結果
C、同一檢驗批進行了一組以上試驗時,應取所有組試驗結果中的最大值作為檢驗結果
D、同一檢驗批進行了一組以上試驗時,應取所有組試驗結果中的平均值作為檢驗結果
A、對于同一檢驗批只進行一組試驗的檢驗項目,應將試驗結果作為檢驗結果
B、對于同一檢驗批進行了一組以上試驗的檢驗項目,應取所有組試驗結果中的最小值作為檢驗結果
C、對于同一檢驗批進行了一組以上試驗的檢驗項目,應取所有組試驗結果中的最大值作為檢驗結果
D、對于同一檢驗批進行了一組以上試驗的檢驗項目,應按不同的性能項目取所有組試驗結果中的最小值或最大值作為檢驗結果
A、同一檢驗批砼的強度等級、齡期、生產工藝和配合比應相同
B、對于同一工程、同一配合比的砼,檢驗批不應少于一個
C、對于同一檢驗批,設計要求的各個檢驗項目應至少完成一組試驗
D、對于同一檢驗批,設計要求的各個檢驗項目應至少完成三組試驗
最新試題
如果雜質既有施主的作用又有受主的作用,則這種雜質稱為()。
對于同時存在一種施主雜質和一種受主雜質的均勻摻雜的非簡并半導體,在溫度足夠高、ni>>/ND-NA/時,半導體具有()半導體的導電特性。
表面態(tài)中性能級位于費米能級以上時,該表面態(tài)為();
改良西門子法的顯著特點不包括()
影響單晶內雜質數量及分布的主要因素是()①原材料中雜質的種類和含量;②雜質的分凝效應;③雜質的蒸發(fā)效應;④生長過程中坩堝或系統(tǒng)內雜質的沾污;⑤加入雜質量;
對于大注入下的直接復合,非平衡載流子的壽命不再是個常數,它與()。
PN結的基本特性是()
只涉及到大約一個原子大小范圍的晶格缺陷是()。
懸浮區(qū)熔的優(yōu)點不包括()
屬于晶體缺陷中面缺陷的是()