集成電路技術(shù)綜合練習(xí)章節(jié)練習(xí)(2018.02.11)
來源:考試資料網(wǎng)1.名詞解釋電壓傳輸特性
參考答案:
指電路的輸出電壓VO隨輸入電壓Vi變化而變化的性質(zhì)或關(guān)系(可用曲線表示,與晶體管電壓傳輸特性相似)。
2.問答題為什么正膠在顯影時很容易被去掉?
參考答案:
因為正膠在曝光時被光照的光刻膠發(fā)生分解反應(yīng)。
3.問答題制作硅柵具體步驟是什么?
參考答案:
生長緩沖層、溝道區(qū)注入、離子注入、CVD工藝淀積多晶硅、多晶硅摻雜、光刻和刻蝕形成多晶硅柵的圖形。
參考答案:
仔細(xì)想一想每個管子應(yīng)該怎樣安排,管子之間怎樣連接,最后的電源線、地線怎樣走
參考答案:
柵極、源極與漏極(或雙極器件的基區(qū)與發(fā)射區(qū))的歐姆接觸、基本連線、薄PN結(jié)的擴(kuò)散源、高值電阻等
參考答案:需要一股很粗的光束、一個很大的透鏡,以及一套良好的光學(xué)系統(tǒng);
精確度較高但非理想接觸導(dǎo)致LSI芯片合格率不高,...
精確度較高但非理想接觸導(dǎo)致LSI芯片合格率不高,...
參考答案:
是P和N半導(dǎo)體相互浸入形成的。
如果外部不加控制電壓就有導(dǎo)電溝道的是耗盡型
如果需要外部加控制電壓才有導(dǎo)電溝道的是增強(qiáng)型。
參考答案:
只設(shè)計電路而沒有生產(chǎn)線
10.問答題開發(fā)多晶硅技術(shù)解決了什么問題?
參考答案:
常規(guī)CMOS結(jié)構(gòu)的閂鎖效應(yīng)嚴(yán)重地影響電路的可靠性,解決閂鎖效應(yīng)